Приборы аналитической лаборатории

Микроскоп AxioScope.A1

Универсальный микроскоп AxioScope.A1 предназначен для биологических, медицинских, петрографических, материаловедческих исследований в отраженном и проходящем свете. В наличии 5 объективов (×5, ×10, ×20, ×50 TL, ×100). Есть возможность фотографирования.

Петрографический микроскоп OlympusBX51

микроскоп с бинокулярными и тринокулярными насадками. Применяется для микроскопического исследования препаратов в проходящем и отраженном свете.Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, поляризованный свет, флуоресценция, ДИК (дифференциальный интерференционный контраст) Номарского. Цифровая камера OLYMPUS сопряжена с компьютером для сохранения и обработки изображений. Видео- и фотосъемка высокого разрешения и обеспечивает четкое изображение без искажений в любом из режимов работы.Объективы с увеличением 5x, 10x, 20x, 50x и 100x.

Микроскоп спектрофотометр МСФ-Р

Предназначен для регистрации спектров зеркального отражения в поляризованном и неполяризованном свете в спектральном диапазоне от 380 до 900 нм.Микроскоп-спектрофотометр позволяет производить наблюдение, фотографирование объектов в естественном свете, а также производить различную обработку фотометрической информации.

Стереомикроскоп Stemi 2000-C

Стереометрический микроскоп Stemi 2000-C с тринокулярным тубусом служит для визуального стереоскопического наблюдения с возможностью микрофотографирования и видеодокументирования изображений.

Микроскоп AxiolabPol (0.5)

Микроскоп AxioScope.A1
Универсальный микроскоп AxioScope.A1 предназначен для биологических, медицинских, петрографических, материаловедческих исследований в отраженном и проходящем свете. В наличии 5 объективов (×5, ×10, ×20, ×50 TL, ×100). Есть возможность фотографирования.
Петрографический микроскоп OlympusBX51
микроскоп с бинокулярными и тринокулярными насадками. Применяется для микроскопического исследования препаратов в проходящем и отраженном свете.Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, поляризованный свет, флуоресценция, ДИК (дифференциальный интерференционный контраст) Номарского. Цифровая камера OLYMPUS сопряжена с компьютером для сохранения и обработки изображений. Видео- и фотосъемка высокого разрешения и обеспечивает четкое изображение без искажений в любом из режимов работы.Объективы с увеличением 5x, 10x, 20x, 50x и 100x.
Микроскоп спектрофотометр МСФ-Р
Предназначен для регистрации спектров зеркального отражения в поляризованном и неполяризованном свете в спектральном диапазоне от 380 до 900 нм.Микроскоп-спектрофотометр позволяет производить наблюдение, фотографирование объектов в естественном свете, а также производить различную обработку фотометрической информации.
Стереомикроскоп Stemi 2000-C
Стереометрический микроскоп Stemi 2000-C с тринокулярным тубусом служит для визуального стереоскопического наблюдения с возможностью микрофотографирования и видеодокументирования изображений.
Микроскоп AxiolabPol (0.5)

Дифрактометр рентгеновский ShimadzuXRD 6000
Предназначен для проведения широкого спектра исследований в области рентгеноструктурного анализа. Порошковый дифрактометр в лаборатории применяется для диагностики предоставляемого материала и количественного фазового анализа.
Область применения:
– определение минерального состава природных и техногенных образцов;
– прецизионное определение параметров элементарной решетки;
– определение степени кристалличности;
– определение размеров кристаллитов (области когерентного рассеяния);
– количественный фазовый анализ методами Ритвельда, постоянных коэффициентов, внутренней добавки, внутреннего эталонирования;
– диагностика глин с применением специальных методик.
Характеристика прибора:
– вертикальный гониометр;
– минимальный шаг сканирования 0.001º;
– рентгеновская трубка Cu «long fine focus»;
– монохроматор;
-вращающийся держатель образцов.
Количественныйрентгенофазовыйанализвыполняетсяметодомполнопрофильногоанализа (Ритвельда) в программном пакете SIROQUANT, версии 4.1, 5.0, разработчик: Sietronics, 40 Hoskins St, Mitchell, ACT 2911, Australia, номер лицензии 11-10419406.

Растровый электронный микроскоп «TescanVEGA 3 SBU»
Позволяет исследовать строение и характер поверхности минеральных веществ с высоким оптическим разрешением. Оснащен энергодисперсионным анализатором «INCAX-act» SDDтипа для определения качественного и количественного состава веществ.
Характеристика микроскопа:
– ускоряющее напряжение от 0.2 до 30 кВ;
– пространственное разрешение электронно-оптической системы не хуже 30 нм;
– получение изображений во вторичных и отраженных электронах, возможность получать изображение в характеристическом излучении элементов;
– работа в низковакуумном и высоковакуумном режимах.
Характеристики энергодисперсионного анализатора:
– диапазон определения элементов от B до U;
– предел обнаружения 0.1 %;
– спектральное разрешение 133 эВ на линии Mn.

Растровый электронный микроскоп «РЭММА-202М» (модернизированный)
Позволяет исследовать строение вещества и характер его поверхности. Оснащен энергодисперсионным анализатором Si(Li) «LinkLZ-5» для исследования качественного и количественного определения состава веществ.
Характеристики микроскопа:
– ускоряющее напряжение от 1 до 30 кВ;
– пространственное разрешение электронно-оптической системы 80 нм;
– получение изображений во вторичных и отраженных электронах.
Характеристики энергодисперсионного анализатора:
– диапазон определения элементов от Naдо U;
– предел обнаружения 0.1 %;
– спектральное разрешение 150 эВ на линии Mn.

Микрозонд «JeolJCXA 733» (модернизированный)
Позволяет получать микрофотографии вещества и исследовать его элементный состав. Оснащен энергодисперсионным анализатором Si(Li) «IncaEnergy 200» и тремя волновыми спектрометрами, установленными при производстве зонда.
Характеристики микрозонда:
– ускоряющее напряжение 1-50 кВ;
– микрозонд снабжен детекторами вторичных, отраженных электронов.
Характеристики энергодисперсионного анализатора:
– диапазон определения элементов от Fдо U;
– предел обнаружения 0.1 %;
– спектральное разрешение 138 эВ на линии Mn;
Характеристики волновых спектрометров:
– диапазон определения элементов в настоящее время от Fдо U;
– спектральное разрешение 10 эВ;
– предел обнаружения 0.05 %.

Инфракрасный Фурье спектрометр «Nicolet-6700» с микроскопом «Continuum (ThermoScientific)»
Позволяет проводить регистрацию спектров веществ в различных состояниях (порошки, минералов, плоскополированные пластинки и шашки, жидкости, пленки, газы) и осуществлять их идентификацию по базе данных.Микроскоп «Continuum» имеет два режима регистрации спектров (пропускание, отражение) и позволяет получать спектры с участков размером 50х50 мкм.Спектрометр оснащен приставкой НПВО (кристалл Ge), температурной ячейкой «Specac» (от -196 ºС до +250 ºС), а также термостоликом «Linkam» (от -196 ºС до +600 ºС).
Характеристики:
– спектральный диапазон: 400-7500 см-1;
– разрешение до 0.1 см-1;
– время регистрации спектра от нескольких секунд.

Рамановский спектрометр «iHR320 HoribaJobinYvon» с микроскопом «OlympusBx41»
Предназначен для регистрации спектров комбинационного рассеяния веществ (плоскополированные шашки, отдельные зерна, жидкости). Данный метод обеспечивает возможность надежного, экспрессного и неразрушающего способа диагностики минералов.
Характеристики:
– спектральный диапазон: 100-4000 см-1;
– He-Ne лазер (632.8 нм);
– Pmax = 20 мВт;
– локальность до 5 мкм.

Квадрупольный масс-спектрометр Agilent 7700x с приставкой лазерной абляции NewWaveResearchUP-213
Масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой,совмещенной с лазерной абляцией (ЛА-ИСП-МС)является современным высокочувствительным методом анализа широкого спектра малых и сверхмалых содержаний микроэлементов и их изотоповinsitu в природных и искусственных материалах в концентрациях, доходящих до 10-10 мас.%. Ввод пробы в масс-спектрометр осуществляется путем получения аэрозоля из смеси инертного газа и небольшого количества анализируемого вещества, испаренного лазером с поверхности образца. К преимуществу метода относятся простота пробоподготовки: отсутствие необходимости в разложении пробы и как следствие меньшая вероятность ее загрязнения и меньшая стоимость, экспрессность, локальность, высокая чувствительность.
Характеристики лазера:
– твердотельный Nd:YAG-лазерс длиной волны излучения 213 нм,
– рабочий диаметр пятна абляции 25–500 мкм.
– энергияпучкалазера – 0.5–20Дж/см2
– частотаповторенияимпульсов1–20Hz
– несущий газ – He.